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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240關鍵亮點

全自動操作：電動 X/Y 工作臺與可編程 Z 軸，保護門開啟即自動回位放樣，提升效率。

深腔適配：DCM 距離補償法輕松應對 80 mm 深腔樣品，解決常規測厚難點。

多鍍層與元素：覆蓋 Ti–U，支持多層結構分析，適合復雜電鍍與功能性鍍層。

高精度與穩定：比例探測器配合三檔高壓與可切換濾片，金層 60 秒重復性優于 1%。

可視化定位：內置 40–160 倍 CCD 攝像頭 + 激光指針，快速精準定位測量點。

安全合規：整機輻射安全聯鎖，符合德國 R?V 與國際標準，使用放心。

典型應用

大規模電鍍件質檢、裝飾鉻等超薄鍍層測量；

電子 / 半導體功能性鍍層（如 PCB、連接器）；

全自動批量測量與電鍍溶液分析。

選購與使用提示

準直器可選 ?0.1/0.2 mm 圓形或 0.3×0.05 mm 狹縫，適配微小或特殊結構；

搭配 WinFTM® 軟件完成數據采集與分析，支持標準報告與數據導出；

工作溫濕度 10–40°C、≤95%（無結露），存儲 0–50°C，需穩定供電與良好接地。