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德國菲希爾XDL237熒光射線測厚儀簡介

德國菲希爾（HELMUT FISCHER GmbH）作為材料測試與分析儀器制造商，其推出的XDL237X射線熒光測厚儀在精密涂層厚度測量領(lǐng)域享有聲譽。該設(shè)備專為多層、合金及復(fù)雜鍍層系統(tǒng)設(shè)計，適用于電子、汽車、航空航天、五金電鍍等高精度制造行業(yè)。

XDL237采用先進的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù)，可在不破壞樣品的前提下，快速、準(zhǔn)確地測定從納米級到微米級的金屬或非金屬涂層厚度。其核心優(yōu)勢在于可同時分析多達(dá)24種元素，并支持多達(dá)五層鍍層結(jié)構(gòu)的同步測量，例如常見的Cu/Ni/Cr、Sn/Pb、Au/Ni/Cu等復(fù)合鍍層體系。儀器配備高分辨率硅漂移探測器（SDD），顯著提升了檢測靈敏度和重復(fù)性。

此外，XDL237備全自動測量平臺，支持大尺寸樣品自動定位與掃描，配合FISCHER WinFTM® V6專業(yè)軟件，用戶可輕松完成數(shù)據(jù)采集、統(tǒng)計分析與報告生成。設(shè)備符合ISO 3497、ASTM B568等國際標(biāo)準(zhǔn)，確保測量結(jié)果具有可追溯性。